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SC系列QFN 射频ATE测试socket
名称：SC系列QFN 射频ATE测试socket描述：
- 概述
用于芯片级 ATE 测试插座的高良率低损耗互连
用于 ATE 测试的SC测试插座部署了获得专利的 SC 触点组。该技术能够在生产环境中进行超过 200 万次使用寿命，并且使用易于更换的插针，无需复杂的组装程序。它设计为与 1mm 偏移和直通占位面积兼容，易于实施，与现有的“卷”型测试接触器和插座相比，SC 简单而坚固的设计具有极高的成本效益。SC 高性能测试插座专为 JEDEC QFN 和 MLF 应用而设计，可用于大多数处理机设置并提供卓越的交流性能。
SC 测试插座的设计目标只有一个；提高芯片级封装 ATE 测试的良率。
SC获得专利的“Scrub”可穿破氧化层，并为每次连接建立良好的接触面。SC插针本身的独特腔体将这种平移定位到顶侧，实际上消除了电路板磨损。SC 引脚由纯半贵金属制成，消除了许多传统 ATE 测试插座解决方案中的电镀磨损。SC 是唯一一种以 SP 技术为核心的专利“滑动线圈”动作的测试插座解决方案。这个概念使我们能够设计能够达到 24GHz @ < -1dB 的系统。结果是一个非常坚固的测试插座，带有非常简单的触点组。
| 机械的 | |
| 间距 | .4 毫米及以上 |
| 包装尺寸 | .2mm x .2mm 及以上 |
| 设备电镀 | 哑光锡、镍钯金 |
| 循环寿命 | 多达 200 万次 |
| 接触方式 | 全金属 |
| 易于更换触点 |
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| ATE 适用于大多数处理程序类型 |
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| 电气 | |
| 交流性能 | 至 24 GHz |
| 信号完整性 |
参见规格书 |
| 直流电阻 | 参见规格书 |
SC 已被设计为世界上一些最先进的半导体公司的高性能弹簧针POGO PIN连接器和 ATE 插座的替代品。SC 有多种间距和高度配置可供选择。我们将与您合作处理您的定制设计应用，提供样品触点，并帮助您确定适合您特定 ATE 插座要求的最佳触点尺寸和间距。
我们有许多基于获得专利的 SC 架构的定制触点设计。我们的工程师将根据您的要求确定最适合您的测试插座、兼容内插器或电连接器需求的解决方案。
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