产品搜索：

中文 English

上海帆测科技发展有限公司

地址:上海市浦东新区宁桥路615号由度工场1号楼8楼B区

电话：021-6838 0250
邮箱：sales@fin-test.com

沪ICP备19001881号-1

Copyright © 2019
Powered by Alsovalue

射频测试Socket

您的位置：产品应用及指南 > 射频测试Socket

射频测试Socket

高速BGA/LGA socket A系列
采用一体式PIN针适用于BGA/LGA/QFP/QFN 等封装，适用于大阵列高速FPGA/CPU/ASIC/SOC特性测试和研发实验室特性验证，调试和手动量产测试。频率最高可达40GHz。

射频测试socket-S系列
S系列socket采用特殊结构的POGO PIN，自感小，带宽可达90GHz

射频测试socket-P系列
P系列射频socket采用高频导电膜，带宽可达110GHz.

共3条记录,当前第1/1页  首页  上一页  1  下一页  尾页