射频测试socket-S系列

您的位置：产品应用及指南 > 射频测试socket-S系列

名称：射频测试socket-S系列描述：S系列socket采用特殊结构的POGO PIN，自感小，带宽可达90GHz

高频 IC 测试座

帆测科技S系列射频socket系列采用POGO PIN技术。一般可以工作到50 GHz 。我们有一些长度为 1.0 mm POGO PIN，能够承受高达 90 GHz 的插入损耗。

我们设计的插座是使用 3D EM 仿真，我们使用合适的插座腔和插座材料来最大限度地提高我们探头频率范围内的性能。我们与客户合作优化测试通道中的插座性能。

我们的每个插座和POGO PIN组合都是在 VNA 上测量验证过的。我们为单端和差分引脚配置提供仿真模型和 s 参数。我们提供完整的 RF 报告，包括 spice 模型、传输线模型和 S 参数。

信号完整性探头和插座用于所有高速宽带 SERDES 协议、微波射频、PAM4、QAM、光纤转换、汽车雷达和毫米波应用。

联系我们以获取我们探头和插座的特定应用说明和特性数据，让我们帮助您设计高频接触夹具。

我们努力为客户提供创新的测试解决方案，以对其产品的可靠性进行精确的测试评估。

封装类型: BGA/LGA/QFN

产品描述

设计阻抗匹配和屏蔽以提高使用导电介质的测试性能。

结构：

接地引脚与导电体短路。

信号引脚与导电体隔离

电源和地使用相同的引脚，与信号引脚不同。

带金属块设计的插座

设计屏蔽测试环境并提高插座SI性能。

结构

与封装和 PCB 地接触，以实现信号引脚之间的良好隔离。

封装尺寸：SQ2mm 至 SQ6mm

封装焊盘最小间距：0.3mm 至 1mm

封装引脚数：12 至数千

测试频率：DC 至 90GHz

插入损耗：1dB

回波损耗：-15dB

隔离度：-50dB 至 -75dB