毫米波测试解决方案

提供DC~325GHz射频探针和测试系统，支持5G NR FR2频段（24.25GHz~52.6GHz）及6G毫米波频段（71GHz~110GHz）的器件和模块测试。

5G核心网元验证

针对gNodeB、CU/DU分离架构提供高速数字接口测试，支持CPRI/eCPRI、NGFI等接口的信号完整性测试和协议验证。

典型应用场景

• 5G基站：毫米波功率放大器、低噪声放大器测试
• 终端设备：5G NR模块、毫米波天线阵列测试
• 网络设备：5G核心网元、前传/中传/回传设备验证

高速SerDes测试

提供高达112Gbps PAM4信号的测试解决方案，支持800G/1.6T数据中心交换机、网卡和光模块的研发与生产测试。

信号完整性分析

70GHz TDR差分探针和高速测试夹具MCB/HCB，支持PCIe 5.0/6.0/7.0、CXL、以太网等高速总线的信号完整性分析。

核心技术优势

• 高带宽探针技术，支持高速信号测量
• 高精度TDR测量，阻抗测量精度达±0.5Ω
• 高速数字信号S参数测试和误码测试

光模块测试

提供400G/800G光模块的自动化测试系统和误码测试，支持QSFP-DD、OSFP等封装形式，集成高速电接口和光接口测试能力。

硅光芯片测试

针对硅光集成芯片提供超高频测试探针和探卡，支持光电器件的射频特性测试和光调制器性能验证。提供硅光测试半自动探针台

典型合作案例

• 400G/800G光模块生产误码测试
• 800G光模块自动化测试
• 高速光通信器件性能验证