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18GHz接收SIP模组测试夹具
名称:18GHz接收SIP模组测试夹具描述:
- 概述
FTS0142P:6~18GHz接收模组测试夹具
为高性能SIP接收模组提供高精度、多通道、宽温域的测试解决方案,满足研发验证与生产测试的严苛要求。
产品亮点
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严苛环境适应性
专为-55°C至+85°C高低温测试环境设计,兼顾待测模组顶盖场放调试和封闭测试两种测试环境,并具备外部结构套件进行机械加固,确保在极限条件下测试的稳定性和可靠性。
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卓越射频性能与一致性
在6-18GHz宽频带内提供优异的射频性能:驻波≤1.2,插损≤0.5dB,增益平坦度≤±0.15dB。确保4通道间卓越的幅度一致性(≤±0.5dB)和相位一致性(≤5°),为多通道相参系统提供精确评估基础。
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完整接口与连接支持
包含5路射频接口和完整的提供电源、控制信号的全功能接口,无缝连接SIP模组与外部测试系统。
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高稳定性与可靠性设计
幅度稳定度≤0.5dB,相位稳定度≤2°。工作温度-40℃~+55℃,贮存温度-55℃~+85℃。坚固的机械结构与精密的接触设计,确保长期测试的重复性与可靠性,适用于高低温循环等可靠性验证。
参数速览
以下是FTS0142P测试夹具的关键性能指标与规格参数,专为满足6~18GHz接收模组(SIP封装)的测试要求而设计。
| 参数类别 | 参数值 / 描述 |
|---|---|
| 适配模组/技术标准 | 6~18GHz接收模组 |
| 射频频率范围 | ≤ 6 ~ 18 GHz |
| 电压驻波比 (VSWR) | ≤ 1.2 |
| 插入损耗 (插损) | ≤ 0.5 dB |
| 增益平坦度 | ≤ ±0.15 dB |
| 4通道幅度一致性 | ≤ ±0.5 dB |
| 4通道相位一致性 | ≤ 5° |
| 幅度稳定度 | ≤ 0.5 dB |
| 相位稳定度 | ≤ 2° |
| 工作温度 | -40℃ ~ +55℃ |
| 贮存温度 | -55℃ ~ +85℃ |
| 接口配置 | 5路射频接口 + 37 Pin 低频连接器 (J30J-37ZKW) |
| 研制周期 | 1个月 |
| 设计输出 | SOKECT测试套件1套,包含《测试报告》 |
优势
FTS0142P测试夹具针对SIP封装接收模组的测试挑战,提供以下专业解决方案。
灵活的测试模式与高兼容性
独特的结构设计同时兼顾“顶盖场放调试”和“封闭测试”两种环境,用户可根据研发或生产的不同阶段灵活选择测试模式。外部机械加固套件确保连接稳固,防止因机械应力导致的测量误差。
夹具严格按照SIP的引脚定义(Pinmap)和外形尺寸设计,确保与待测模组的物理和电气兼容性,支持旋钮式和翻盖式安装,极大提升了测试的便利性和效率。
为多通道系统验证而优化
在宽达6-18GHz的频带内,严格控制各通道的幅度与相位一致性(≤±0.5dB, ≤5°)以及优异的稳定度(幅度≤0.5dB, 相位≤2°),这对于相控阵雷达、电子侦察等多通道接收系统的性能评估与校准至关重要。
低驻波和低插损的设计最大限度地减少了夹具本身对测试系统的影响,确保被测模组的真实性能得到准确反映,为研发调试和量产筛选提供可靠的数据支撑。
应用场景
- 相控阵雷达T/R组件或接收子阵的通道一致性测试与校准
- 宽带电子侦察与对抗设备中6~18GHz接收模组的研发验证
- SIP封装接收模组在高低温环境(-55℃~+85℃)下的可靠性验证与特性分析
- 生产线对多通道接收模组的射频性能与数字功能进行快速、一致的筛选测试
- 卫星通信、微波中继等系统中高频接收前端的性能测试与故障诊断
- 科研院所对高性能SIP模组架构、集成工艺及测试方法的研究与评估
- 上一图片:10GHz CBGA SIP模组测试夹具
- 下一图片:6GHz微带定向耦合器测试夹具