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50GHz片式薄膜电阻射频测试夹具
名称：50GHz片式薄膜电阻射频测试夹具描述：
- 概述
FTS027P-50GHz：片式薄膜电阻射频测试夹具
适用于DC～50GHz片式薄膜电阻S参数精准测试，含完整TRL校准套件，满足量产与研发高精度测试需求。
产品预览
产品亮点
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DC‑50GHz全频段覆盖
支持直流至50GHz超宽带测试，完美覆盖片式薄膜电阻全频段射频性能验证，传输损耗低、驻波优异。
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专用SMD电阻封装适配
精准匹配片式薄膜电阻各类封装尺寸，串联双端口载台结构，S参数提取精准稳定。
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全套TRL校准组件
标配THRU/SHORT/OPEN/LOAD/LINE1/LINE2/LINE3校准件，分段覆盖全频段，校准精度满足行业标准。
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高一致性量产测试
重复测试插入损耗偏差≤±3%，回波损耗一致性≤±7%，适配研发验证与自动化量产线长期使用。
详细技术参数
| 参数类别 | 技术指标 / 描述 |
|---|---|
| 产品型号 | FTS027P-50GHz |
| 工作频率 | DC～50GHz |
| 适用封装 | 片式薄膜电阻SMD封装 |
| 测试结构 | 串联双端口网络，S参数直接提取 |
| 射频接口 | 2.4mm/1.85mm 高频连接器 |
| 校准套件 | TRL全套（THRU/SHORT/OPEN/LOAD/LINE1‑3） |
| 驻波比（校准件） | ≤1.25@DC‑20GHz；≤1.4@20‑50GHz |
| 插入损耗 | ≤1dB@DC‑20GHz；≤2.5dB@20‑50GHz |
| 测试一致性 | 插入损耗偏差≤±3%；回波损耗偏差≤±7% |
产品优势
严苛设计标准与高品质制造
采用高频射频器件专业设计规范，频率、接口、结构、电气性能均达到行业领先标准。
全新精密加工工艺，尺寸与装配精度高，无使用痕迹，可直接投入研发与量产测试使用。
分段TRL校准，全频段高精度
LOAD覆盖DC‑1.6GHz，LINE1/2/3分别覆盖1.6‑3.5GHz、3.5‑13GHz、13‑50GHz，相位差控制在20‑160°，驻波控制严格。
配合矢量网络分析仪可完成回波损耗、插入损耗、时延、相位全参数精准测量。
稳定可靠，适配量产与研发
高频结构低寄生、低反射、高重复性，同时满足实验室研发验证与生产自动化ATE测试双重场景。
典型应用场景
- 片式薄膜电阻DC‑50GHz S参数测试。
- 片式薄膜电阻研发阶段性能验证与可靠性测试。
- 射频电阻自动化量产ATE/SLT测试系统。
- 5G/微波/射频前端高频电阻阻抗与损耗标定。
- 上一图片：温度补偿衰减器射频测试夹具
- 下一图片：没有了