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光电芯片专用DC测试探针
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名称：光电芯片专用DC测试探针描述：该探针专为EO/OE光电器件量身开发，打破传统探针无法兼顾光路与高密度针位的局限，从结构源头优化光I/O通路，在光电芯片测试领域实现高密度、高可靠性测试落地，可按需微调针位、开窗尺寸，支持个性化非标定制。
- 概述
DC悬臂探针 | EO/OE光电器件专用高密度测试探针
光路兼容不挡光，专为光电芯片直流电性与光电性能测试设计
技术规格
| 适用器件 | EO/OE光电器件、硅光芯片 |
| 探针结构 | 悬臂式，前端光学开窗 |
| 探针间距 | 50~1000 μm |
| 探针针数 | 最多约250 Pin |
| 排布方式 | 开窗纵向两侧双侧排布 |
| 测试类型 | 直流电性测试、光电耦合测试 |
| 交付周期 | 首次定制6周，重复下单4周 |
产品优势
光路无遮挡：前端光学开窗设计，完美兼容光信号输入输出。
高密度稳定接触：精密间距，最多250Pin排布，接触电阻一致性优异。
专属结构优化：双侧悬臂排布，不遮挡光路同时实现稳定电气导通。
高效交付：定制化方案快速落地，返单周期更短，不耽误产线测试。
量产级可靠性：长时间测试不偏针、不塌针，适配大批量芯片测试。
DC悬臂探针｜EO/OE光电器件测试专用