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50GHz+110GHz 双频段射频探针
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名称：50GHz+110GHz 双频段射频探针描述：Dual-Band MEMS Probe（110GHz+50GHz）双频段 MEMS 探针
单支探针可覆盖两个频段测试，在狭小空间内实现多功能集成。
专为小面积焊盘（PAD）器件开发，兼容 50GHz 与 110GHz 双频段
- 概述
50GHz+110GHz 双频段MEMS射频探针
单针双频集成设计，狭小PAD高密度毫米波芯片在片测试专用探针
技术规格
| 工作频率 | 50GHz + 110GHz 双频段 |
| 探针构型 | 双组GSG，共6探针排布 |
| 制作工艺 | MEMS微加工工艺 |
| 优化设计 | 电磁场仿真优化 |
| 适用场景 | 小面积PAD/高密度晶圆测试 |
| 测试性能 | 全频段稳定S参数/高重复性 |
核心优势
双频合一：单支探针完成50G/110G双频段测试，无需更换探针。
高密度集成：6探针集成设计，2组GSG 110GHz探针，4组GSG 50GHz探针完美适配狭小测试空间与小PAD器件。
测试精准：仿真优化+MEMS工艺，全频段信号稳定，测试重复性优异。
高效降本：节省探针台空间，简化测试流程，大幅提升测试效率。
广泛应用：适用于毫米波雷达、6G研发、射频IC、高频半导体器件测试。
50GHz+110GHz 双频段MEMS毫米波测试探针
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