原位去嵌入 (ISD)

示例 1

在本例中，DUT 是夹层连接器。构建了一个测试夹具和 2x 直通试样：

在 4 端口 VNA 测量中，SMA 和引入走线使用与 DUT + 测试夹具相同的精确差分阻抗去嵌入，如下面的时域差分阻抗曲线所示。

TRL 后的非因果响应归因于 TRL 校准板和实际 DUT 测试夹具之间的阻抗变化，如下图所示。ISD 没有因果关系错误。请注意回波损耗的巨大差异。

参考技术文件了解更多详细信息，并了解 ISD 如何比 TRL 和裸板去嵌入更准确、操作更简单且成本更低：

ISD 与 AFR

查看 ISD 的优势：

1. 提供更准确和因果关系的结果
   • 阻抗校正 2x 直通和 1x 开路/短路
2. 对测试夹具和试样使用标准基板、蚀刻公差和连接器
   • 节省硬件成本
3. 从单个走线测试试样中提取串扰
4. 从大板上提取小 DUT
5. 去嵌入非对称结构
6. 支持无限数量的 Fixture+DUT 端口
   • 能够反嵌奇数个端口
   • 能够从 m 端口结构中反嵌入 n 个端口（n
   • 2x 直通可以是 2*m 个端口，其中 m 是任意的，1x 开路/短路可以是 1 或 2 个端口
7. 延迟和衰减的缩放
   • 能够去嵌入比现有优惠券更长或更短的时间
8. 自动偏斜计算和去偏斜
   • 一键搞定
9. 内置 Delta-L 计算
   • 一键比较 ISD 和 Delta-L 结果
   • 输出走线 (DUT) 阻抗
10. 从 1x 开路 + 1x 短路创建有效的 2x 直通（-AtaiTec 的专利）
11. 内置 TDR 和其他 SI 功能
12. 支持通配符 (*) 在一个设置中反嵌入多个文件
13. 批量运行以堆叠多个作业
14. 超过 IEEE P370 要求

示例 2

参见反嵌谐振器结构中ISD和AFR的比较：

示例 3

请参阅反嵌 USB Type-C 连接器中 ISD 和 AFR 之间的其他比较：

示例 4