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QSP-DD/QSFP 400G/800G HCB 16 port测试夹具

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名称:QSP-DD/QSFP 400G/800G HCB 16 port测试夹具描述:采用高速PCB互连技术,我们的 QSFP-DD 和 OSFP 主机一致性测试夹具使工程师能够利用尖端的高速端口和连接器开发和表征系统和设备。非常适合 400G 和 800G 系统,用户可以在简单易用的外形中轻松表征所有高速线路。满足 IEEE 802.3ck 和 OIF CEI-112G-VSR 性能要求。

  • 概述
QSFPDD16 HCB - 规格说明

QSFPDD16 HCB 测试夹具

P/N: QSFPDD16-HCB

高性能QSFP-DD/OSFP主机一致性测试夹具,适用于400G/800G系统开发与表征

产品描述

QSFPDD16 HCB(16PORT 主机一致性测试夹具)基于高速PCB互连技术开发,专为QSFP-DD与OSFP接口的系统和设备开发、表征设计。该夹具可完美适配400G/800G高速网络场景,支持工程师轻松完成所有高速线路的性能表征,且完全满足IEEE 802.3ck和OIF CEI-112G-VSR行业性能标准,为高速信号测试提供稳定、精准的测试基础。

夹具核心参数亮点:8个完整差分对设计,搭配2.4mm/1.85mm射频连接器,所有转换环节的最大差分阻抗变化控制在±7Ω以内,同时符合QSFP-DD和OSFP MSA机械模块规范,确保测试过程中的兼容性与可靠性。

应用领域

QSFP-DD MSA 接口测试

适配QSFP-DD多源协议(MSA)定义的接口标准,用于QSFP-DD模块及主机端口的信号完整性验证、合规性测试,确保接口满足高速数据传输要求。

OSFP MSA 接口测试

符合OSFP MSA机械与电气规范,支持OSFP接口设备(如服务器、交换机)的高速信号测试,验证设备在800G场景下的互连性能。

400G/800G系统表征

针对400G/800G高速网络系统的开发阶段,提供线路性能表征支持,包括信号损耗、串扰、阻抗匹配等关键指标的测试,助力系统性能优化。

产品特点

优异信号完整性

优化的PCB布局与高速互连设计,减少信号传输过程中的干扰与损耗,保障高速信号(最高支持112Gbps)的完整性,为精准测试提供基础。

8组完整差分对

覆盖TX0/RX0、TX1/RX1、TX2/RX2、TX3/RX3、TX4/RX4、TX5/RX5、TX6/RX6、TX7/RX7共8组差分对,满足全通道测试需求,无需额外切换即可完成所有线路测试。

低损耗·低回损·低串扰

采用高性能PCB材料与阻抗匹配设计,实现低插入损耗、低回波损耗,同时通过优化布线降低近端与远端串扰,减少信号干扰对测试结果的影响。

一致的Skew稳定性

通道间Skew(时延差)控制精度高,且长期使用中保持稳定,确保多通道信号传输的同步性,提升测试结果的重复性与可靠性。

多标准合规

同时满足IEEE 802.3ck(以太网标准)、OIF CEI-112G-VSR(光互联论坛标准)、QSFP-DD MSA、OSFP MSA四大核心标准,兼容性广泛。

高可靠射频连接

搭载2.4mm/1.85mm射频连接器,具备低接触损耗、高连接稳定性特点,适配高速测试仪器(如示波器、矢量网络分析仪),确保测试链路的可靠性。

高速性能测试曲线

插入损耗测试曲线

QSFPDD16 HCB 插入损耗测试图表

不同频率下的信号插入损耗变化,体现夹具对高速信号的传输损耗控制能力

回波损耗测试曲线

QSFPDD16 HCB 回波损耗测试图表

信号反射程度的量化曲线,反映夹具阻抗匹配性能,回波损耗越低越好

差分阻抗测试曲线

QSFPDD16 HCB 差分阻抗测试图表

夹具全链路差分阻抗分布,最大变化±7Ω,符合行业标准要求

远端串扰测试曲线

QSFPDD16 HCB 远端串扰测试图表

远端通道间的信号干扰程度,低串扰确保多通道并行传输时的信号独立性

近端串扰测试曲线

QSFPDD16 HCB 近端串扰测试图表

近端通道间的信号耦合干扰,低近端串扰减少相邻通道对测试信号的影响

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