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40GHz 环形器测试夹具
名称：40GHz 环形器测试夹具描述：
- 概述
环形器测试夹具：高频射频环形器性能测试专用夹具
用于对射频环形器进行高精度、高可靠性的电气性能测试，支持宽频段环形器的插入损耗、隔离度、驻波比等关键指标检测，适配小型化环形器封装形式。
产品预览
产品亮点
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宽频段高射频性能
覆盖常用射频频段（如1-40GHz可选），测试链路插入损耗≤2dB，驻波比(VSWR) ≤1.25，确保测试结果的准确性和参考价值。
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精准适配小型化环形器
针对微型/小型化环形器封装尺寸定制设计，夹具定位精度≤0.02mm，确保环形器引脚与测试触点精准接触，无接触不良问题。
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高测试重复性与稳定性
采用耐磨镀金触点和高刚性机械结构，单次测试偏差≤0.05dB，重复测试一致性≤0.1dB，满足批量测试的精度要求。
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全参数一站式测试
支持环形器插入损耗、隔离度、驻波比、相位特性等核心参数的同步测试，三端口射频接口设计匹配环形器特性，无需多次拆装。
详细技术参数
| 参数类别 | 技术指标 / 描述 |
|---|---|
| 适配环形器类型 | 微型射频环形器（贴片/插件式） |
| 射频频率范围 | 1 ~ 40 GHz（可定制） |
| 电压驻波比 (VSWR) | ≤ 1.25 |
| 测试链路插入损耗 | ≤ 2 dB |
| 定位精度 | ≤ 0.01 mm |
| 单次测试偏差 | ≤ 0.05 dB |
| 重复测试一致性 | ≤ 0.1 dB |
| 射频接口类型 | SMA/2.92mm/2.4mm（可选） |
| 工作温度 | -55℃ ~ +125℃ |
优势
环形器测试夹具针对射频环形器测试场景深度优化，核心优势如下：
高精度机械结构设计
夹具采用CNC精密加工，定位基准误差≤0.01mm，环形器放置后无偏移、无晃动，确保射频触点的稳定接触，避免因机械偏差导致的测试误差。
翻盖式压合结构设计，操作便捷且压合力均匀，既保证接触可靠性，又避免损坏小型化环形器封装。
低损耗射频链路设计
射频传输路径采用高频低损耗板材和镀金传输线，最大限度降低夹具自身对测试结果的影响，测试数据可直接反映环形器真实性能。
三端口独立射频通道设计，完美匹配环形器的端口特性，支持正向/反向损耗、隔离度的同步测试，提升测试效率。
典型应用场景
- 通信基站、射频模块中环形器/隔离器的出厂性能检测与批量筛选。
- 雷达、卫星通信设备中高频环形器的研发阶段性能验证与参数调试。
- 射频器件生产线上环形器的来料检验、过程测试与成品验收。